La SIC está adelantando las acciones necesarias relacionadas con Procedimientos Acelerados de Examen de Patentes (PPH) en cooperación con otras Oficinas de Propiedad Industrial a nivel mundial. Estos acuerdos permiten que un solicitante cuyo objeto contenido en la invención ha sido determinado como patentable en una Oficina de Primera Presentación (OPP), pueda solicitar en una Oficina de Segunda Presentación (OSP) que se adelante el examen de la solicitud correspondiente, aprobando que en la OSP se utilice la búsqueda y resultados del examen de fondo de la OPP. Esto representa un avance muy importante para los solicitantes nacionales en su objetivo de proteger su invención en otros países porque en la medida en que la SIC continúe disminuyendo sus tiempos de atención para el examen de sus solicitudes de Patentes de Invención, los inventores colombianos podrán beneficiarse del estudio realizado y solicitar que éste sea tenido en cuenta en una oficina de un país extranjero con el cual se haya establecido el procedimiento.

En este orden de ideas y a fin de lograr estos propósitos se ha establecido un Procedimiento Acelerado de Examen de Patente con la OEPM. Esto significa que a partir del primero de noviembre de 2013, los colombianos que hayan presentado una solicitud de patente en Colombia y en España y que hayan obtenido la patente en Colombia antes que en España, podrán solicitar en dicho país ante la OEPM que se tenga en cuenta el examen de patentabilidad realizado en Colombia para que se adelante el examen de la solicitud correspondiente y que estos resultados sean tenidos en cuenta en la OEPM.

En otras palabras cuando la SIC sea la OPP y la solicitud presentada contenga reivindicaciones que son determinadas como patentables u otorgables, el solicitante podrá requerir un examen acelerado ante la OEPM para la solicitud correspondiente presentada en esta última como OSP. Para mayor información sobre los procedimientos y requerimientos para presentar una solicitud ante la OEPM para su participación en el PPH, se puede ingresar a la siguiente dirección de internet:

http://www.oepm.es/cs/OEPMSite/contenidos/PPH/Paises/Colombia/Colombia.htm

Del mismo modo, a partir del mes de noviembre de 2013, los solicitantes que hayan presentado una solicitud de patente en España y en Colombia y que hayan obtenido la patente en España antes que en Colombia, podrán solicitar en dicho país ante la SIC que se tenga en cuenta el examen de patentabilidad realizado en España.

Lo anterior significa que cuando la SIC sea la OSP y la solicitud correspondiente presentada en la OEPM como OPP contenga reivindicaciones que son determinadas como patentables u otorgables, el solicitante podrá solicitar el PPH y  que la correspondiente solicitud en la SIC sea considerada para ser examinada de forma acelerada.

El programa piloto del PPH comenzará el 1 de noviembre de 2013 por un periodo de dos años, prorrogables automáticamente por periodos sucesivos iguales según la voluntad de las partes.

Para presentar una solicitud de PPH se deben cumplir las siguientes condiciones:

a. Al momento de solicitar el examen de patentabilidad ante la SIC, si el solicitante pide que se reconozca el examen de patentabilidad de la OEPM como OPP, debe aportar junto con el pago de la tasa y el formato correspondiente, los siguientes documentos:

• Copia del fallo o decisión que ha sido relevante para la determinación de la patentabilidad de la solicitud en la OEPM que contienen las reivindicaciones patentables u otorgables que son la base de la petición.
• Copia de todas las reivindicaciones que han sido determinadas como patentables u otorgables en la OEPM.
• Copia de los antecedentes, información o documentos citados por el examinador de la OEPM en el examen de patentabilidad, en el fallo o decisión correspondientes, incluyendo la literatura no patente. Los documentos de patente deberán presentarse siempre y cuando no estén disponibles para la SIC mediante el acceso a bases de datos gratuitas.
• Una tabla de correspondencias de las reivindicaciones que han sido determinadas como patentables u otorgables en la OEPM y las que se han presentado en la SIC como OSP.

b. La solicitud colombiana presentada en la SIC debe ser:

• Una solicitud presentada de conformidad con el Convenio de París, bien sea que reivindique válidamente la prioridad de una solicitud anterior en virtud del artículo noveno de la Decisión 486 de 2000, para una o más solicitudes presentadas ante la OEPM como OPP o reivindique válidamente como prioridad la fecha de presentación internacional de una solicitud PCT que no contenga reivindicación de prioridad, o,
• Una solicitud que se encuentre en la fase nacional en virtud del PCT a partir de una solicitud internacional PCT que reivindique válidamente la prioridad en virtud del artículo noveno de la Decisión 486 de 2000, o reivindique válidamente como prioridad la fecha de presentación internacional de una solicitud PCT que no contenga reivindicación de prioridad, o que no contenga reivindicación de prioridad.

c. La solicitud examinada por la OEPM como OPP debe corresponder con la presentada ante la Superintendencia de Industria y Comercio, esto es, que las reivindicaciones de la solicitud inicial o su divisional sean iguales a las de la solicitud colombiana.

d. Si el fallo o decisión de la OEPM no establece explícitamente que una reivindicación es patentable, el solicitante deberá anexar una declaración que contenga el análisis técnico de dicha reivindicación con respecto al estado de la técnica citado por el examinador de la OEPM, indicando que no ha existido objeción por parte de esa oficina respecto de esa reivindicación y, por lo tanto, la reivindicación se considera patentable.

e. Todas las reivindicaciones de cada solicitud presentada en la SIC como OSP, deben corresponder a las reivindicaciones patentables u otorgables de la solicitud de la OEPM como OPP. Si no hay correspondencia entre las reivindicaciones deberán solicitarse las modificaciones a las que haya lugar pagando la tasa correspondiente.

Las reivindicaciones se considerarán como correspondientes cuando, tengan un alcance igual o similar, o las reivindicaciones en la OEPM tengan un alcance menor a las reivindicaciones presentadas en la SIC.

Se entenderá que una reivindicación tiene menor alcance cuando la reivindicación en la solicitud presentada en la SIC es modificada para limitarla con una característica técnica que esté soportada en la solicitud originalmente presentada (descripción y/o reivindicaciones).

Una reivindicación en la solicitud presentada en la SIC que introduzca una nueva o diferente categoría de reivindicación (es) a aquella (s) determinada (s) como patentable (s) u otorgable (s) en la OEPM como OPP, no serán consideradas suficientemente correspondientes.

Se deberá presentar una tabla de correspondencia de las reivindicaciones presentarse e indicar de qué manera todas las reivindicaciones de la solicitud presentada en la SIC como OSP corresponden a la (s) reivindicación (es) patentable (s) u otorgable (s) en la solicitud de la OEPM como OPP.

Para que una solicitud sea aceptada en el PPH entre la OEPM como OPP y la SIC como OSP, se requiere que no haya comenzado el examen de patentabilidad de que habla el artículo 45 de la Decisión 486.

El reconocimiento del examen de patentabilidad proferido por la OEPM como OPP no se podrá transferir a una solicitud divisional. El solicitante podrá presentar una nueva petición para la solicitud divisional y cumplir con todas las condiciones establecidas anteriormente.

El PPH entre la OEPM como OPP y la SIC como OSP no aplica para las solicitudes de Patentes de Modelos de Utilidad y las solicitudes de registro de Diseño Industrial.

No procederá el reconocimiento de las reivindicaciones de solicitudes de patente que contengan asuntos que se encuentren comprendidos en los artículos 15, 20 y 21 de la Decisión 486 de 2000. Si la SIC encuentra que algunas reivindicaciones están comprendidas en los artículos 15, 20 y 21 de la Decisión 486 de 2000, procederá a conceder aquellas reivindicaciones, si las hubiere, que no están comprendidas en los citados artículos.

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